反向动态参数测试是电力电子关键技术，可反映大功率电源、雷达等电气设备的效率、可靠性、电磁兼容等，是学术界的热点，也是产业界的难题。由银河集团:198net韦文生教授的团队按照国家标准GB-T4023-1997设计的二极管反向动态参数测试仪，以反向动态过程为处理对象，在阐明碳化硅PIN型二极管超快反向恢复机理的基础上，采用强弱电耦合技术，利用分立元件与集成芯片构建电路，集信号采集、模/数转换、显示于一体。在国家自然科学基金项目(No.61274006)支持下，经过近2年持续攻关，把流过1—10A电流的功率二极管等器件反向瞬态时间的量程缩短至15纳秒；不仅把反向恢复时间、电荷、反向峰值电压与反向偏置电压之比等参数在LCD上显示出来，还能在示波器上观测反向恢复波形，二者互为校验。成果拥有自主知识产权，获得了发明专利(纳米碳化硅/晶体碳化硅双缓变结快速恢复二极管及其制备方法，专利号201210329426.2；一种用于抵制二极管内反向恢复电荷的系统，专利号201410128200.5)，并发表在Applied Physics A(Vol.118: 1387-1398)、IET Power Electronics(DOI: 10.1049/iet-pel.2015.0203)等国际期刊上。

该测试仪通过了浙江省电子信息产品的鉴定检验。能为器件生产商、研究单位等提供先进、高效、方便的测试手段，也可作为高校的专业实验教学仪器。